做高端DWDM滤波、高隔离度无源器件、相干光学实验时,普通可调光源ASE噪声过高,会直接拉低隔离度测试结果,造成良率误判。Santec TSL550主打超高信噪比,解决精密测试噪声干扰核心痛点。
1260–1680nm全通信波段无跳模连续扫描,输出功率稳定+13dBm,0.1nm带宽下信噪比可达90dB,ASE底噪压制能力大幅领先同级别基础款光源,测试高隔离器件时杂散干扰几乎可以忽略。
分A、C双精度版本:A型±20pm标准精度,满足常规量产检测;C型±5pm高精度版本,适配研发实验室窄波长精细标定。标配精细波长微调、相干控制功能,干涉仪、光子谐振腔测试稳定不漂移。
扫描速度最高100nm/s,搭配Santec功率计、偏振控制器可搭建一体化IL/WDL/PDL全自动测试系统,广泛用于滤波器、光分束器、硅光无源芯片批量表征。程控接口齐全,兼容各类实验室自动化软件,长时间连续72小时开机波长漂移极小,适合24小时不停工产线。
机身操作面板逻辑直观,波长、功率一键锁定,更换测试样品不用反复重置参数;兼顾研发实验室精度需求与工厂量产稳定需求,是市面上性价比均衡的中高端可调光源。
适用场景:高隔离DWDM滤波器测试、硅光无源芯片表征、相干干涉实验、波分器件量产精密检测、光子集成器件研发。

做高端DWDM滤波、高隔离度无源器件、相干光学实验时,普通可调光源ASE噪声过高,会直接拉低隔离度测试结果,造成良率误判。Santec TSL550主打超高信噪比,解决精密测试噪声干扰核心痛点。
1260–1680nm全通信波段无跳模连续扫描,输出功率稳定+13dBm,0.1nm带宽下信噪比可达90dB,ASE底噪压制能力大幅领先同级别基础款光源,测试高隔离器件时杂散干扰几乎可以忽略。
分A、C双精度版本:A型±20pm标准精度,满足常规量产检测;C型±5pm高精度版本,适配研发实验室窄波长精细标定。标配精细波长微调、相干控制功能,干涉仪、光子谐振腔测试稳定不漂移。
扫描速度最高100nm/s,搭配Santec功率计、偏振控制器可搭建一体化IL/WDL/PDL全自动测试系统,广泛用于滤波器、光分束器、硅光无源芯片批量表征。程控接口齐全,兼容各类实验室自动化软件,长时间连续72小时开机波长漂移极小,适合24小时不停工产线。
机身操作面板逻辑直观,波长、功率一键锁定,更换测试样品不用反复重置参数;兼顾研发实验室精度需求与工厂量产稳定需求,是市面上性价比均衡的中高端可调光源。
适用场景:高隔离DWDM滤波器测试、硅光无源芯片表征、相干干涉实验、波分器件量产精密检测、光子集成器件研发。
