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Santec TSL570高速高精度可调谐激光器 200nm/s超快扫描 超高功率光子芯片测试光源
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Santec TSL570高速高精度可调谐激光器 200nm/s超快扫描 超高功率光子芯片测试光源

2026-07-21
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Santec TSL570高速高精度可调谐激光器

200nm/s超快扫描 超高功率光子芯片测试光源

面向800G光模块、硅光集成、量子光子、高速自动化产线客户,需要更快扫描、更高波长分辨率、更强输出功率,Santec TSL570作为旗舰级可调激光器,拉满光学与速度性能,解决高端研发、大批量自动化测试效率瓶颈。


核心三大升级优势:极速扫描,最高200nm/s扫速,同等波长跨度测试耗时直接减半,自动化产线单日检测产能翻倍;极致精度,0.1pm波长分辨率,±2pm波长稳定度,超窄线宽光子芯片、微环谐振腔精细光谱表征无误差;超高功率H版本可选,最高+20dBm输出功率,弥补硅光芯片、无源波导耦合损耗,无需额外光放大器。


全域无跳模连续扫描,ASE噪声控制优异,0.1nm信噪比维持90dB,高低功率版本统一保持低底噪;10GHz大范围精细微调,相干光学、干涉、光纤光栅超高精度标定专用。


波段支持定制:1260–1360nm O波段、1500–1630nm C/L波段两种选型,匹配数据中心、电信传输不同研发方向。全接口程控,适配全自动晶圆级测试、芯片探针台联动,科研前沿实验室、头部光通信大厂产线标配机型。


机身密封谐振腔设计,环境温变下波长漂移极低,空调简易实验室无需恒温舱也能稳定高精度测量;长周期连续运行稳定性强,大幅减少仪器停机校准频次。

适用场景:400G/800G高速光模块研发、硅光/光子集成晶圆测试、量子光子实验、微环谐振腔表征、全自动高速量产检测、超高耦合损耗器件测试。



Santec TSL570高速高精度可调谐激光器 200nm/s超快扫描 超高功率光子芯片测试光源
2026-07-21

Santec TSL570高速高精度可调谐激光器

200nm/s超快扫描 超高功率光子芯片测试光源

面向800G光模块、硅光集成、量子光子、高速自动化产线客户,需要更快扫描、更高波长分辨率、更强输出功率,Santec TSL570作为旗舰级可调激光器,拉满光学与速度性能,解决高端研发、大批量自动化测试效率瓶颈。


核心三大升级优势:极速扫描,最高200nm/s扫速,同等波长跨度测试耗时直接减半,自动化产线单日检测产能翻倍;极致精度,0.1pm波长分辨率,±2pm波长稳定度,超窄线宽光子芯片、微环谐振腔精细光谱表征无误差;超高功率H版本可选,最高+20dBm输出功率,弥补硅光芯片、无源波导耦合损耗,无需额外光放大器。


全域无跳模连续扫描,ASE噪声控制优异,0.1nm信噪比维持90dB,高低功率版本统一保持低底噪;10GHz大范围精细微调,相干光学、干涉、光纤光栅超高精度标定专用。


波段支持定制:1260–1360nm O波段、1500–1630nm C/L波段两种选型,匹配数据中心、电信传输不同研发方向。全接口程控,适配全自动晶圆级测试、芯片探针台联动,科研前沿实验室、头部光通信大厂产线标配机型。


机身密封谐振腔设计,环境温变下波长漂移极低,空调简易实验室无需恒温舱也能稳定高精度测量;长周期连续运行稳定性强,大幅减少仪器停机校准频次。

适用场景:400G/800G高速光模块研发、硅光/光子集成晶圆测试、量子光子实验、微环谐振腔表征、全自动高速量产检测、超高耦合损耗器件测试。