在一个系统中生成和分析 38 - 45 Gb/s、10.8Gb/s、3.35GB/s 和 2.7GB/s 信号
生成伪随机字序列 (PRWS)(高达 2.7 Gb/s)和高达 231-1(高达 45 Gb/s)的标准 PRBS
使用用户定义的 PRBS 或数据分析误码率 (BER)
高达 10.8/21.6 GHz 的外部时钟输入
21.6 GHz、10.8 GHz、2.7 GHz/675 MHz 的子速率时钟输出(仅限 45 Gb/s 多路复用器模块)
45Gb/s 解复用模块中的时钟数据恢复 (CDR) 模式
Keysight ParBERT 81250 40 Gb/ s解决方案是测试16:1和4:1 OC-768 MUX(复用),DeMUX(解复用)及串行器件的理想集成误码率(BER)测量系统。 根据配置情况,系统可产生和分析相关子量程1/2、1/4、1/8和1/16的高达38至45 Gb/s串行数据流,以及高达10.8 Gb/s的并行数据流。 并能在并行线伪随机字序列(PRWS)上产生高达2^31-1的标准PRBS数据。 用用户定义的或PRBS数据分析BER。 系统使用VXI硬件和基于Windows 2000/NT®的用户软件。
Keysight ParBERT 81250 40G 电/光并行误码率测试仪系统是测试OC-768光或电并行边或串行边的理想设备,能使半导体、元件和设备制造商的产品更快进入市场。
现可提供就绪和易于订货的40 Gb/s码型发生器和差错探测器。 要了解详细情况,请参看下面的ParBERT 40G产品综述。
在一个系统内产生和分析 38 - 45 Gb/s, 10.8Gb/s, 3.35GB/s 和 2.7GB/s 信号
产生伪随机字序列 (PRWS) (达 2.7 Gb/s) 和达231-1的标准 PRBS (达 45 Gb/s)
用用户定义的 PRBS 或数据分析误码率 (BER)
通过 Keysight VEE, National Instruments LabVIEW, Excel, Keysight TestExec, C/C++ 和 Microsoft®VisualBasic远地编程
高达10.8/21.6 GHz的外时钟输入
在 21.6 GHz, 10.8 GHz, 2.7 GHz/675 MHz ( MUX 模块仅 45 Gb/s)的子速率时钟输出
45Gb/s DeMUX 模块的时钟数据恢复(CDR)模式
直观的 Windows 2000/ NT® 用户界面