特征:
如果您是研发或制造工程师,在数字子系统、IC 或电路板上执行功能和参数测试,安捷伦 81200 数据生成器/分析仪平台是您的正确选择。81200 允许在整个开发周期内对数字设备进行全面验证和表征,从而降低风险、成本和缩短上市时间。
81200 是一个模块化系统,提供速度等级为 200/330/675/2.700Mb/s 的激励和分析器通道,
Agilent ParBERT 81250 是一个模块化并行电气和光学误码率 (BER) 测试平台,工作速率高达 45 Gb/s。ParBERT 81250 平台包含以 675 Mb/s、1.65 Gb/s、2.7 Gb/s、3.35 Gb/s、7 Gb/s、10.8 Gb/s、13.5 Gb/s 和 45 Gb/s 的速度工作的模块。该系统在平行线上生成伪随机字序列(PRWS),标准伪随机二进制序列(PRBS)和用户定义的模式。您可以使用用户定义的模式、PRBS/PRWS 或混合数据(用户定义的模式和 PRBS 的组合)来分析误码率。
ParBERT 81250 非常适合并行到串行、串行到并行、串行到串行和多个串行 BER 测试。例如,多路复用器和解复用器(Mux/Demux) - 或SerDes(串行器/解感器) - 用于电信和存储区域网络(SAN)IC的测试,制造中的多个发射器和接收器测试,放大器以及10GbE和前向纠错(FEC)设备测试。
它也是IC测试仪高速通道的理想扩展。
如果需要,ParBERT 81250 还为 DUT 提供数据和控制信号。