1. 品牌介绍
是德科技(Keysight)是全球领先的电子测量仪器与测试解决方案提供商,传承60余年精密测量技术积淀,聚焦通信、航空航天、汽车电子、半导体等核心领域,以高精度、高可靠性的测试设备与专业解决方案,助力全球客户加速研发、优化生产、保障产品质量。PNA系列作为是德科技矢量网络分析仪旗舰产品线,历经数十年技术迭代,凭借卓越的射频性能与灵活的应用适配性,成为行业标杆。KEYSIGHT N5227B作为PNA系列67GHz频段主力型号,融合低杂散DDS合成源、高动态接收架构与智能校准技术,覆盖高频测试全场景,为客户提供权威、高效的测量支撑。

2. 产品特点
宽频覆盖+灵活扩展:KEYSIGHT N5227B基础频率覆盖10MHz–67GHz,可选低频扩展选件(LFE)将频率延伸至900Hz,适配从音频到毫米波的全频段测试需求;支持2端口(单信号源)、4端口(双信号源)灵活配置,配备1.85mm(50Ω)高性能连接器,保障高频低损耗连接,满足多类型器件测试需求。
极致射频性能:KEYSIGHT N5227B动态范围表现优异,20GHz频段最高达134dB,67GHz频段仍保持118dB,系统动态范围最高128dB;输出功率适配不同频段,1GHz时达+13dBm,67GHz时达+11dBm,可满足各类有源器件测试;1kHz带宽迹线噪声低至0.002dB rms,微弱信号测量精准可靠,有效提升测试精度。
高速测量+全功能表征:KEYSIGHT N5227B单测试点测量速度快至3.6μs,支持最大100001点长轨迹采集,大幅提升测试效率;集成S参数、时域故障定位、脉冲S参数、混频器/变频器、噪声系数、AM-AM/AM-PM非线性等全维度测量功能,同时支持双音互调(IMD)、差分器件/I/Q器件测试,可完成复杂有源器件的高效表征。
智能校准+系统兼容:KEYSIGHT N5227B内置TRLL/LRL/LRM、UOSM、晶圆级校准等高级校准算法,搭配夹具去嵌入功能,有效消除系统误差,保障测量准确性;支持LAN、USB、GPIB全接口,兼容SCPI远程控制协议,可无缝对接自动化测试系统,适配产线批量测试;配备12.1英寸WXGA触控屏,支持多轨迹并行显示,操作直观高效,降低操作门槛。
稳定可靠+长效运维:KEYSIGHT N5227B采用工业级硬件设计,温度稳定性<0.03dB/°C,保障长期测量一致性;内置自校准与漂移补偿功能,可适配7×24小时产线连续运行;提供全球统一质保与专业技术服务,支持KeysightCare专业维保方案,有效降低设备运维成本,保障设备长期稳定运行。
3. 产品规格
型号:KEYSIGHT N5227B
频率范围:900Hz(可选LFE选件)/10MHz–67GHz;可扩展至67GHz–70GHz
端口配置:2端口(单信号源)/4端口(双信号源)
连接器:1.85mm(阳头),50Ω
动态范围:20GHz频段≥134dB;67GHz频段≥118dB;系统最高128dB
输出功率:1GHz:+13dBm;67GHz:+11dBm
迹线噪声:1kHz带宽:0.002dB rms
测量速度:<3.6μs/测试点
中频带宽:1Hz–15MHz(可选)
校准方式:TRLL/LRL/LRM、UOSM、晶圆校准、夹具去嵌入
测量功能:S参数、时域、脉冲、混频器、噪声系数、非线性、差分/I/Q器件测试
显示:12.1英寸触控屏(1280×800分辨率)
接口:LAN(1G)、USB 2.0、GPIB(可选)、10MHz参考I/O
尺寸与重量:2端口:约42.2kg;4端口:约44.9kg
最大输入:+27dBm/30V DC
4. 应用场景
汽车电子(77/79GHz车载雷达):KEYSIGHT N5227B可完成车载雷达收发组件、天线阵列、毫米波芯片的S参数、群时延、非线性特性测试,精准适配77–81GHz频段全场景验证,助力车载雷达研发与产线质检,保障车载雷达性能稳定。
5G/6G毫米波通信:适配5G NR毫米波基站、相控阵模块、n260/n261等高频段器件的幅相一致性、多端口并行测试,同时支撑6G技术预研,为下一代通信技术研发提供精准测量支撑。
卫星通信与航空航天:可用于卫星载荷Ka/Ku频段组件、雷达T/R模块、脉冲射频系统的混频器、脉冲S参数、瞬态响应测试,满足航空航天领域高精度、高可靠性的测试需求。
半导体与晶圆测试:适配GaN/GaAs射频IC、片上器件的高精度S参数、频率响应表征,支持晶圆级校准,助力半导体工艺研发与晶圆级器件测试,提升半导体产品质量。
射频器件研发:可完成滤波器、放大器、功分器、耦合器等各类射频器件的全参数测量,支持功率扫描、互调失真、调制失真等复杂测试,为射频器件研发提供全面的性能表征。
产线自动化测试:KEYSIGHT N5227B高速测量能力适配产线节拍,支持远程控制与数据追溯,可完成多端口器件批量检测,有效提升产线产能与测试一致性,降低测试成本。