Anritsu MS9740A 001 台式光谱分析仪光学测试设备

安立（Anritsu）成立于1895年，拥有百余年创新电子测量解决方案研发与服务经验，专注为有线和无线通信系统、运营商及多行业领域提供测试测量设备与方案。公司在全球设立研发中心与生产基地，销售及服务网络覆盖90多个国家和地区，在中国设立多家代表处与服务机构，扎根本土市场。

安立在光通信测试领域积淀深厚，自1983年起推出光谱分析仪系列产品，凭借独创技术与可靠性能，其光测试设备广泛应用于光器件研发、生产及运维环节，涵盖光时域反射计、光谱分析仪、传输测试仪等多个品类，为光通信产业发展提供有力支撑，践行“智能解决方案的创造者”定位。

高速测试性能：作为Anritsu MS9740A系列核心优势，实现≤0.2秒/5nm扫描速度，较前代产品测试效率提升80%，波形数据测量与外部传输可在0.2秒内完成，该速度达到前代型号的5倍，有效缩短测试周期，提升生产与研发效率。
精准测量能力：覆盖600nm-1750nm波长测量范围，具备≥60dB动态范围（0.4nm距峰值波长处），30pm最小分辨率带宽，波长精度可达±20pm（特定条件下），保障测量数据精准可靠。
广泛适配性：支持10μm/125μm单模光纤、50μm/125μm及62.5μm/125μm多模光纤，配备可更换FC、SC、ST、DIN、LC光学连接器，适配多种测试场景与器件类型，兼容当前主流光器件接头规格。
高性价比优势：在保持核心性能的基础上，优化成本控制，较同类产品投入成本降低约30%，避免功能冗余，为用户提供适配需求的高性价比测试方案。
稳定运行特性：采用高耦合效率设计，减少连接损耗，保障高灵敏度光功率与SMSR测量，提升测量稳定性；设备重量≤15.0kg，功耗降低50%，工作温度范围覆盖5~45℃，适配实验室与生产线长期运行需求。
便捷操作体验：简化分析流程，支持波形数据快速传输至外部控制设备，适配自动化测试需求，降低操作复杂度。

规格项目	详细参数
适用光纤	10μm/125μm单模光纤（ITU-T G.652）、50μm/125μm多模光纤、62.5μm/125μm多模光纤
光学连接器	用户可更换：FC、SC、ST、DIN、LC
波长测量范围	600nm - 1750nm
波长精度	±20pm（1520nm-1620nm，分辨率0.03-0.2nm）；±100pm（1520nm-1620nm，分辨率0.5-1.0nm）；±50pm（1530nm-1570nm，分辨率0.07-0.2nm）；±100pm（1530nm-1570nm，分辨率0.5-1.0nm）（需满足预热2小时、特定光纤条件）
设置分辨率（RBW）	0.03、0.05、0.07、0.1、0.2、0.5、1.0nm（3dB光学滤波器传输带宽）
动态范围	高动态范围：60dB（0.4nm距峰值波长处）；标准动态范围：58dB（0.4nm距峰值波长处）（分辨率0.05nm、1550nm、光衰减关闭、20-30℃）
扫描参数	扫描宽度：0.2nm - 1200nm、0nm；扫描速度：≤0.2秒（跨度5nm，分辨率0.1nm、VBW=10kHz、标准动态范围、中心1550nm）
最大输入功率	+23dBm（光衰减开启）
外形尺寸	426（宽）×177（高）×350（深）mm（不含凸起部分）
设备重量	≤15.0kg（无选件）

光有源器件生产测试：适配SFP、XFP、SFP+模块、光收发器及VCSEL、DFB光源等光有源器件的批量生产测试，Anritsu MS9740A系列高速扫描性能可缩短单台器件测试时间，减少生产线投入，在控制成本的同时保障生产产能与测试质量，所有测量结果可在一个屏幕显示，无需切换画面。
光学器件特性评估：可用于WDM器件、光放大器等光学器件的特性评估，精准测量光谱变化、噪声电平波动等参数，为器件性能优化提供可靠数据支撑。
研发实验室测试：适配光通信领域研发实验场景，支持光谱特性的高速监控与精准测量，满足研发过程中对测试精度、速度及稳定性的多重需求，助力新技术与新产品研发。
质量控制环节：适用于光器件及系统产品的质量控制检测，可快速完成批量产品的光谱性能筛查，及时发现产品质量问题，保障出厂产品一致性与可靠性。
自动化测试系统集成：支持数据快速传输至外部控制设备，可集成于自动化测试系统中，适配大规模、自动化的生产测试需求，提升测试流程的标准化与高效性。

Anritsu MS9740A 台式光谱分析仪 - 安立光学测试解决方案