产品特性
一体化源测集成:将50W TEC控制器与精密直流测量功能合二为一,无需额外搭配电源、万用表,简化系统集成,降低采购与维护成本,实时同步监测并显示温度、电流、电压及传感器电阻参数。
极致温控性能:采用全数字可编程PID控制,支持P/I/D增益独立调节,温控范围覆盖-50℃~+225℃,设定分辨率达0.001℃,短期稳定性±0.005℃ RMS,避免温度波动导致器件性能偏移。
多重防护与适配:软硬件双重限值保护(电流1.0~5.25A、电压±0.5~10.5V),兼容热敏电阻、RTD、温度控制IC,支持四线制连接,搭配开路/短路检测,消除引线误差,保障设备与被测器件安全。
自动化高效兼容:标配GPIB、RS-232接口,支持SCPI指令集与多设备同步触发,半机架紧凑型设计(42.4mm宽度),适配全球宽电压(100-240V AC),无缝融入批量生产自动化测试系统。
精准故障检测:内置交流欧姆测量功能,可精准检测TEC机械损伤与接触不良,为器件质量管控提供额外数据支撑,降低测试误判风险。
技术参数
温控性能
控温范围:-50℃~+225℃,过温保护限值250℃
设定分辨率:0.001℃,短期稳定性±0.005℃ RMS(24小时,25℃±0.5℃)
控制方式:数字可编程PID,支持P/I/D增益独立调节
兼容传感器:热敏电阻、RTD、温度控制IC,支持四线制连接
TEC输出与保护
测量精度(23℃±5℃,预热30分钟,1年精度)
系统与结构
应用场景
Keithley 2510凭借高精度温控与稳定性能,成为需严苛温度控制场景的优选设备,核心应用包括:
光纤通信领域:激光二极管模块LIV(光-电-压)连续波测试,保障激光器波长稳定性,提升光模块量产一致性。
光电探测领域:红外CCD阵列、电荷注入器件(CID)及冷却光电探测器的温度控制测试,确保探测精度。
组件校准领域:热光开关、温控夹具等光电组件的生产校准与性能验证,强化产品质量管控。
器件检测领域:热电冷却器(珀尔帖器件)的特性分析与质量检测,精准识别机械损伤与性能缺陷。
科研测试领域:光电器件高低温环境模拟实验,为材料特性研究提供稳定温控支撑。
