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Keithley 2636 双通道系统数字源表 - 高精度I-V表征与自动化测试方案

主要特性：

Keithley 2636双通道系统数字源表，采用四象限源测量设计，A/B型号覆盖不同精度需求。仪器支持2600系列代码后向兼容，便于系统升级替换，内置TSP技术实现嵌入式自动化测试。20,000读数/秒速率可精准捕捉器件瞬态行为，TSP-Link总线支持32台设备扩展。B型号新增6位半分辨率、USB2.0接口及2400系列软件仿真，多接口配置适配远程操控，广泛应用于半导体、材料研究等多领域I-V测试。

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Keithley 2636 双通道系统数字源表 - 高精度I-V表征与自动化测试方案

概述

一、品牌介绍

Keithley（吉时利）成立于1946年，现隶属于泰克科技（Tektronix），拥有七十余年电气测试仪器研发与服务经验。专注为半导体、电子制造、科研教育、新能源等领域提供高精度测试测量设备与解决方案，产品涵盖系统源表、数字多用表、数据采集系统等多个品类。多次荣获行业大奖，凭借稳定性能与技术积淀，在测试测量领域积累了良好声誉，服务网络覆盖多个国家和地区。

二、产品特点

多功能集成：单台仪器融合精密电压源、电流源、数字多用表、任意波形发生器、脉冲发生器、电子负载及触发控制器七大功能，B型号具备四象限源测量能力，简化测试系统搭建。
便捷操作体验：搭载嵌入式TSP® Express软件工具，无需编程或安装额外软件，B型号内置Java-based测试软件，支持浏览器即插即用，进一步降低操作门槛。
高速精准测试：具备20,000读数/秒的采集速度，信道同步精度低于500ns，B型号升级至6位半分辨率，0.1fA测量精度，可精准捕捉低电流器件瞬态行为。
灵活扩展兼容：支持代码后向兼容2600系列仪器，B型号新增2400系列软件指令仿真；通过TSP-Link®总线可扩展至32台设备/64个通道，适配多通道并行测试需求。
远程控制能力：符合LXI Class C标准，标配USB、GPIB、LAN接口，B型号升级USB2.0，支持高速数据传输、远程测试监控与故障排查，适配自动化测试场景。

三、产品规格

通道数量：2个独立通道，支持单通道操作与双通道同步控制
测量范围：电压100nV-200V，电流0.1fA-1.5A（直流）、10A（脉冲），宽动态范围适配低电流器件测试需求。
输出功率：整机输出功率60W，单通道30W，满足多数器件测试功率需求。
采集速率：最高20,000读数/秒，支持快速瞬态信号捕捉
同步精度：信道同步误差小于500ns，保障多通道协同测试精度
通信接口：USB、GPIB、LAN，支持TSP-Link®总线扩展，兼容LXI Class C标准
物理参数：机身设计紧凑，适配桌面与系统集成安装，配备低噪声三同轴电缆及配套连接器。
质保期限：提供1年原厂质保服务

四、应用场景

半导体领域：适用于二极管、晶体管、MOSFET等半导体器件的静态与动态I-V特性测试，可精准分析阈值电压、跨导等参数，助力器件研发与生产筛选。
光电器件测试：可对LED、激光二极管、光电二极管、太阳能电池等光电器件进行电学性能表征，精准捕捉器件响应特性。
材料研究领域：适配纳米材料、导电材料、半导体薄膜等的电学性能测试，0.1fA高精度可满足低电流场景下的科研测量需求。
电子制造行业：用于传感器、电池、集成电路（RFIC、ASIC、SOC）等元器件的生产测试与质量管控，提升测试效率与一致性。
科研与教学：作为电子工程、材料科学等学科的实验工具，支持复杂实验设计与数据分析，助力科研创新与教学实践。