产品简介
Keysight N7786C XP6 级偏振合成器,是面向光子器件测试的一体化偏振控制解决方案,集成高速铌酸锂偏振控制器与内置偏振计,依靠实时反馈闭环,精准设定、稳定、循环输出目标偏振态 SOP是德科技。
工作波长覆盖 1240 nm~1650 nm,覆盖 O、C、L 等主流光通信波段;整机无活动光学元件,可靠性高、寿命长。支持多种工作模式:偏振稳定器、偏振态 SOP 切换器、偏振扰码器,可配合光子应用套件 PAS,和可调谐激光源、光功率计组成全自动 PDL(偏振相关损耗)扫描测试系统,是无源光器件、硅光芯片、光子集成 PIC 研发、晶圆级测试、产线自动化表征的核心设备。仪器支持 SCPI 程控,配备 LAN、USB 接口,可无缝接入 ATE 自动化测试平台。
核心特点
一体化闭环偏振控制:内置偏振计实时监测反馈,SOP 偏振态不确定度典型 1.5°,测试重复性好Keysight
宽波长覆盖:1240 nm ~ 1650 nm,适配 O、E、S、C、L 波段光通信器件测试
无机械光学结构:铌酸锂电光调制,无活动光学部件,抗震动、长期稳定
多工作模式:偏振稳定、斯托克斯参数自定义 SOP、偏振态序列高速切换、偏振随机扰码
高速偏振切换:SOP 循环速率最高 100 kSOPs/s,切换微秒级,适合大批量快速扫描测试是德科技K...
低插入损耗:典型≤5.0 dB,1550nm 处典型≤4.0 dB,减少链路功率损耗是德科技
宽输入光功率范围:-38 dBm ~ +19 dBm,适配不同光源输出功率
标准化程控接口:LAN、USB,SCPI 指令,兼容 Pathwave、PAS 光子测试软件,系统集成便捷
1U 机架紧凑型机身,便于测试台堆叠集成
核心规格参数
| 项目 | 参数 |
|---|
| 型号 | Keysight N7786C XP6 偏振合成器 |
| 波长范围 | 1240 nm ~ 1650 nm |
| 偏振态 SOP 不确定度 | 典型 1.5° |
| 插入损耗 | ≤5.0 dB(1550nm 典型≤4.0 dB) |
| 输入光功率范围 | -38 dBm ~ +19 dBm |
| SOP 最高循环速率 | 100 kSOPs/s |
| 反馈环路时间 | <150 µs |
| 工作模式 | 偏振稳定、SOP 序列切换、偏振扰码、斯托克斯参数设定 |
| 光学结构 | 铌酸锂电光偏振控制,无活动光学部件 |
| 接口 | LAN、USB,SCPI 程控 |
| 外形 | 1U 机架式独立主机 |
| 光纤 | 单模光纤适配 |
应用场景
无源光器件 PDL 偏振相关损耗、PMD 偏振模色散测试
硅光芯片、光子集成 PIC、光调制器、光探测器偏振特性表征
WDM 器件、滤波器、光耦合器、隔离器、环行器偏振灵敏度测试
相干光通信组件、光模块偏振相关指标验证
干涉系统偏振稳定,提升干涉对比度
晶圆级光子芯片自动化测试、产线 ATE 批量测试
科研实验室偏振光学、光纤光学基础研究
应用案例
某硅光研发实验室使用 Keysight N7786C 搭配 N7776C 可调谐激光源、N7745C 多通道光功率计,搭建一体化 PAS 光子测试平台,自动完成宽光谱 PDL 扫描测量;N7786C 闭环稳定偏振态,消除光纤偏振漂移干扰,微秒级偏振切换,大幅缩短单颗芯片测试时长,保证多批次器件测试一致性。
FAQ
Q:N7786C 和 N7788C 有什么区别?
A:N7786C 主打偏振合成、偏振稳定、PDL 自动化测试;N7788C 是高性能偏振色散分析仪,具备更强的 PMD、二阶 PMD、琼斯矩阵、穆勒矩阵测量能力,适合更深层次偏振色散表征。
Q:N7786C 可以单独使用吗?
A:可以独立单机操作;自动化光谱 PDL 测试一般需要搭配可调谐激光器、光功率计以及 PAS 光子应用软件套件。
Q:是否支持偏振扰码?
A:支持,可作为偏振扰码器,随机遍历庞加莱球全部偏振态,用于器件抗偏振扰动测试。
Q:光纤接头是标配吗?
A:标配不含光纤接头,可按需选配 FC/APC、SC/APC 等光纤连接器。
Q:可以和 N7776C、N7778C 系列可调激光器联动吗?
A:可以,原生兼容 N777xC 系列可调光源,在 PAS 软件内同步波长扫描 + 偏振控制,一键完成光谱 PDL 测试。

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