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产品动态
MS9740A Anritsu
光谱分析仪
• 以 <0.2s（5nm） 测量无源光学器件可缩短总分析时间
• 用于评估有源光学器件的专用应用
• 动态范围性能 ≥60 dB（距峰值波长 0.4 nm）
• 用于评估有源光学器件的专用应用
• 动态范围性能 ≥60 dB（距峰值波长 0.4 nm）
MP1590B Anritsu
网络分析仪
• 多通道同时测试
• SDH/SONET，PDH/DSn，OTN抖动性能综合测试仪表
• 支持10/100/1000 M，Gigabit 和 10 Gigabit 以太网测试
• 高精度抖动测量
• SDH/SONET，PDH/DSn，OTN抖动性能综合测试仪表
• 支持10/100/1000 M，Gigabit 和 10 Gigabit 以太网测试
• 高精度抖动测量
N1077A Keysight
光通信
• 在光电设计中提供 50 Mbaud 至 32 Gbaud 数据速率范围（连续）
• 为 NRZ 和 PAM-4 数据信号提供符合标准的时钟恢复（CR）功能
• 为 NRZ 和 PAM-4 数据信号提供符合标准的时钟恢复（CR）功能
86105C Keysight
采样示波器/模块
• 9 GHz 放大光通道，适用于 9/125 至 62.5/125 光纤
• 20 GHz 电气通道，带 3.5 mm 公头输入
• 单模和多模放大（750 至 1650 nm，SMF 和 MMF）
• 20 GHz 电气通道，带 3.5 mm 公头输入
• 单模和多模放大（750 至 1650 nm，SMF 和 MMF）
86100A Agilent
采样示波器/模块
• 示波器，带宽超过50 GHz，可确保进行最精确的波形测量
• 眼图分析仪，用于发射机一致性测试
• 时域反射计/时域传输（TDR/TDT），用于高精度S参数阻抗分析
• 眼图分析仪，用于发射机一致性测试
• 时域反射计/时域传输（TDR/TDT），用于高精度S参数阻抗分析
86100B Agilent
采样示波器/模块
• 波长范围：750-860 nm
• 典型rms噪声：1.5 μW（3 GHz）
• 参考接收机功能（155/622 Mb/s或1.063/1.250 Gb/s）
• 典型rms噪声：1.5 μW（3 GHz）
• 参考接收机功能（155/622 Mb/s或1.063/1.250 Gb/s）
86100C Agilent
光通信
• 示波器带宽超过80 GHz
• 眼图分析仪可用于>40 Gb/s的光发射机和电发射机一致性测试
• 时域反射计/时域传输（TDR/TDT），用于包括S参数的高精度阻抗分析
• 眼图分析仪可用于>40 Gb/s的光发射机和电发射机一致性测试
• 时域反射计/时域传输（TDR/TDT），用于包括S参数的高精度阻抗分析
N1092E keysight
采样示波器/模块
• > 40 GHz 光通道带宽（选件 40A）、50 GHz 电通道带宽
• FC/PC 和 2.4 毫米输入类型
• 高灵敏度，本底噪声仅为 5 µW（光）、310/600 µV（电）
• FC/PC 和 2.4 毫米输入类型
• 高灵敏度，本底噪声仅为 5 µW（光）、310/600 µV（电）
N1092D keysight
采样示波器/模块
• 高灵敏度，噪声 < 5 µW
• 超快吞吐量，采样率高达 250 kHz
• 准确的高速数据分析，抖动 < 200 fs
• 超快吞吐量，采样率高达 250 kHz
• 准确的高速数据分析，抖动 < 200 fs
