Tektronix DSA8300数字串行分析仪采样示波器是一款高性能的仪器，可以用来测试和分析高速光信号和电信号，支持多种光接口标准和应用。
• 垂直分辨率 – 16 位模数转换器
• 电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）
• 光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的<20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• 光接口带宽 >80 GHz
• 电接口带宽 >70 GHz
• 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能
• 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试
• 复杂抖动/噪声/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持复杂测量 TDECQ 1, SNDR 2 (应用)
DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传 输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途最广泛的工具。 它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和 电接口发射机进行检定及一致性验证。
此外，DSA8300 特别适合电接口信号路径检定，包括封装、 PCB 或电缆。由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性最强 的模块化架构，DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了 最高性能的 TDR 和互连分析能力、最准确的信号损伤分析能 力以及 BER 计算功能。
最后，由于杰出的信号保真度和分辨率，对要求超高带宽、超 精细垂直分辨率、低抖动和/或杰出低噪声的电接口和光接口应用，DSA8300 提供了黄金标准。
DSA8300 拥有无可比拟的测量系统保真度及最低的基本仪器 抖动本底（对速率 >1.25 Gb/s 的串行数据信号，典型值为 425 fs RMS），保证最准确地同时采集最多 8 个高带宽信号。 使用 82A04B 相位参考模块时，采集抖动低于 100 fs RMS 使 分析效果更佳。
多处理器结构及每插槽专用数字信号处理器 (DSP) 提供了快 速波形采集速率，缩短了进行可靠的检定和一致性验证所需的测试时间。
DSA8300 的通用模块化结构支持大量的且不断增加的插件， 您可以为测量系统配置各种最适合您当前应用和未来应用的 电接口模块、光接口模块和附件模块。DSA8300 提供了 6 个 模块插槽，可以同时容纳一个时钟恢复模块、一个精密相位参 考模块和多个电接口或光接口采集模块，可以让系统性能与不 断演变的需求相适应。由于能够在不断电的情况下插拔采样 模块，DSA8300（适用于固件版本为 6.1 及以上的示波器）可 以根据测试需求变化，更加灵活地配置DSA8300。
此外，专用模块配套功能，如单端和差分电接口时钟恢复、电 接口采样器静电保护及连接流行的 TekConnect® 探测系统， 在高阻抗探测和差分探测中提供了一流的泰克探头性能。另 外，还提供用于 50 Ω 探测和 TDR 探测的低阻抗探头。 DSA8300 及相关应用软件完善的测量和分析功能进一步增强 了 DSA8300 及其采样模块和附件的原始采集性能。
光接口测试应用测量和分析工具
DSA8300 为满足光接口测试应用专门设计的各种测量和分析 工具。除标准幅度和定时参数测量外（如上升时间/下降时间、 幅度、RMS 抖动、RMS 噪声、频率、周期等）外，DSA8300 的测量套件还包括为测量光接口信号订制的测量（平均光接口 功率、消光比、眼图高度、眼图宽度、光接口调制幅度 (OMA)、 等等）。如需完整的测量清单，请参阅本产品技术资料的测量部分。
DSA8300 还包括标准一致性测试模块，支持 155 Mb/s ~ 100 Gb/s 的所有常用光标准。DSA8300 模板测试系统可以 把标准和用户模板自动拟合到波形数据库内采集的数据中。 模板测试系统还可以基于模板违例总数或模板违例相对于模 板测试单位间隔中采集的样点数的比率，自动确定模板余量。 用户还可以创建定制模板，自动进行模板测试。另外还提供了 直方图和光标测量，分析 DSA8300 采集的光接口信号。
测试解决方案
DSA8300 拥有高度可配置的主机和各种模块，提供了完整的 测试解决方案及杰出的系统保真度。
光接口模块
泰克 80C00 家族光采林荫道模块覆盖了单模光纤和多模 光纤的各种波长。各种模块提供了多种功能，如时钟恢复、 基准接收机滤波器和各种标准测试解决方案。 参阅订货信息部分，获得最新提供的光模块列表。
电接口模块
泰克 80E00 家族光采模块提供提供了各种功能，用户可以 配置专门为其应用设计的测试解决方案。有各种带宽解决 方案及其他功能，如时域反射计或 S 参数测试。
实用工具模块
泰克 80A00 和 82A00 家族模块提供了额外的功能，如相 位基准和 ESD 保护。
l 80A02 EOS ESD 隔离模块
l 82A04B 相位基准模块
l 80A03 模拟扩展装置
Tektronix DSA8300数字串行分析仪采样示波器是一款高性能的仪器，可以用来测试和分析高速光信号和电信号，支持多种光接口标准和应用。
• 垂直分辨率 – 16 位模数转换器
• 电接口分辨率：<20 µV LSB（适用于 1 v 全量程）
• 光接口分辨率从 80C07B（1 mW 全量程）的<20 nW 到 80C10C（30 mW 全量程）的 <0.6 µW
• 光接口带宽 >80 GHz
• 电接口带宽 >70 GHz
• 为 NRZ、RZ 和脉冲信号类型提供了超过 120 种自动测量功能
• 80 多种行业标准模板，自动进行模板测试
• 复杂抖动/噪声/BER/SER 分析 (80SJNB)，支持复杂测量 TDECQ 1, SNDR 2 (应用)
DSA8300 数字串行分析仪为开发和测试采用几千兆位数据传 输技术的通信、计算机和消费电子提供了用途最广泛的工具。 它可以用来对这些产品中使用的器件、模块和系统的光接口和 电接口发射机进行检定及一致性验证。
此外，DSA8300 特别适合电接口信号路径检定，包括封装、 PCB 或电缆。由于杰出的带宽、信号保真度及可扩展性最强 的模块化架构，DSA8300 为当前和新兴串行数据技术提供了 最高性能的 TDR 和互连分析能力、最准确的信号损伤分析能 力以及 BER 计算功能。
最后，由于杰出的信号保真度和分辨率，对要求超高带宽、超 精细垂直分辨率、低抖动和/或杰出低噪声的电接口和光接口应用，DSA8300 提供了黄金标准。
DSA8300 拥有无可比拟的测量系统保真度及最低的基本仪器 抖动本底（对速率 >1.25 Gb/s 的串行数据信号，典型值为 425 fs RMS），保证最准确地同时采集最多 8 个高带宽信号。 使用 82A04B 相位参考模块时，采集抖动低于 100 fs RMS 使 分析效果更佳。
多处理器结构及每插槽专用数字信号处理器 (DSP) 提供了快 速波形采集速率，缩短了进行可靠的检定和一致性验证所需的测试时间。
DSA8300 的通用模块化结构支持大量的且不断增加的插件， 您可以为测量系统配置各种最适合您当前应用和未来应用的 电接口模块、光接口模块和附件模块。DSA8300 提供了 6 个 模块插槽，可以同时容纳一个时钟恢复模块、一个精密相位参 考模块和多个电接口或光接口采集模块，可以让系统性能与不 断演变的需求相适应。由于能够在不断电的情况下插拔采样 模块，DSA8300（适用于固件版本为 6.1 及以上的示波器）可 以根据测试需求变化，更加灵活地配置DSA8300。
此外，专用模块配套功能，如单端和差分电接口时钟恢复、电 接口采样器静电保护及连接流行的 TekConnect® 探测系统， 在高阻抗探测和差分探测中提供了一流的泰克探头性能。另 外，还提供用于 50 Ω 探测和 TDR 探测的低阻抗探头。 DSA8300 及相关应用软件完善的测量和分析功能进一步增强 了 DSA8300 及其采样模块和附件的原始采集性能。
光接口测试应用测量和分析工具
DSA8300 为满足光接口测试应用专门设计的各种测量和分析 工具。除标准幅度和定时参数测量外（如上升时间/下降时间、 幅度、RMS 抖动、RMS 噪声、频率、周期等）外，DSA8300 的测量套件还包括为测量光接口信号订制的测量（平均光接口 功率、消光比、眼图高度、眼图宽度、光接口调制幅度 (OMA)、 等等）。如需完整的测量清单，请参阅本产品技术资料的测量部分。
DSA8300 还包括标准一致性测试模块，支持 155 Mb/s ~ 100 Gb/s 的所有常用光标准。DSA8300 模板测试系统可以 把标准和用户模板自动拟合到波形数据库内采集的数据中。 模板测试系统还可以基于模板违例总数或模板违例相对于模 板测试单位间隔中采集的样点数的比率，自动确定模板余量。 用户还可以创建定制模板，自动进行模板测试。另外还提供了 直方图和光标测量，分析 DSA8300 采集的光接口信号。
测试解决方案
DSA8300 拥有高度可配置的主机和各种模块，提供了完整的 测试解决方案及杰出的系统保真度。
光接口模块
泰克 80C00 家族光采林荫道模块覆盖了单模光纤和多模 光纤的各种波长。各种模块提供了多种功能，如时钟恢复、 基准接收机滤波器和各种标准测试解决方案。 参阅订货信息部分，获得最新提供的光模块列表。
电接口模块
泰克 80E00 家族光采模块提供提供了各种功能，用户可以 配置专门为其应用设计的测试解决方案。有各种带宽解决 方案及其他功能，如时域反射计或 S 参数测试。
实用工具模块
泰克 80A00 和 82A00 家族模块提供了额外的功能，如相 位基准和 ESD 保护。
l 80A02 EOS ESD 隔离模块
l 82A04B 相位基准模块
l 80A03 模拟扩展装置