Keysight E8363A 网络分析仪：高性能射频与微波测试解决方案
Keysight E8363A 网络分析仪：高性能射频与微波测试解决方案
一、产品概述
Keysight E8363A 是一款 高性能矢量网络分析仪（VNA），属于 PNA 系列，专为 射频（RF）、微波和毫米波器件测试 设计。它广泛应用于 无线通信、航空航天、国防电子、半导体测试 等领域，提供 高精度 S 参数测量、时域分析、噪声系数测试 等功能。
本篇文章将从 产品参数、使用说明、典型应用 三个方面详细介绍 E8363A，帮助用户快速掌握其功能并优化测试流程。
二、E8363A 关键参数
1. 频率范围与动态性能
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 频率范围 | 10 MHz ~ 40 GHz（可扩展至67 GHz） |
| 动态范围 | >130 dB（典型值） |
| 测量速度 | 最快 5 μs/点（快速扫描模式） |
| 输出功率 | -50 dBm ~ +13 dBm（可调） |
2. 测量精度与稳定性
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 幅度精度 | ±0.03 dB（校准后） |
| 相位精度 | ±0.3°（校准后） |
| 迹线噪声 | <0.002 dB RMS（1 kHz IFBW） |
| 温度稳定性 | ±0.01 dB/°C（典型值） |
3. 其他关键特性
端口配置：2端口（标准），可扩展至4端口
校准方式：支持SOLT（短路-开路-负载-直通）、TRL、LRM校准
数据接口：GPIB、LAN、USB 2.0
显示分辨率：12.1英寸触摸屏（1024×768像素）
三、使用说明
1. 硬件连接
(1) 被测器件（DUT）连接
使用 高质量射频电缆（如3.5mm或N型接口）连接 E8363A 的 Port 1 和 Port 2 至 DUT。
若测试差分器件（如平衡滤波器），需搭配 差分探针或巴伦。
(2) 校准步骤
选择校准套件：在仪器菜单中匹配校准件型号（如85052D）。
执行SOLT校准：依次连接短路（Short）、开路（Open）、负载（Load）、直通（Thru）标准件。
验证校准：检查 S11/S22 的反射系数是否接近0 dB（理想匹配）。
2. 基本测量操作
设置频率范围
按 【FREQ】键，输入起始（Start）和终止（Stop）频率（如1 GHz ~ 20 GHz）。
选择测量参数
按 【S-Parameter】键，选择 S11（反射系数）、S21（传输系数） 等。
调整扫描点数与IF带宽
增加点数（如1601点）可提高分辨率，降低IF带宽（如10 Hz）可减少噪声。
数据保存与导出
支持保存为 **.CSV、.S2P** 格式，便于后续分析（如ADS仿真）。
3. 高级功能
(1) 时域分析（TDR/TDT）
功能：用于定位传输线中的阻抗不连续点（如PCB走线缺陷）。
操作步骤：
按 【Transform】→【Time Domain】。
设置时域门控（Gating）以隔离特定反射信号。
(2) 噪声系数测试（需选件）
适用场景：放大器、混频器的噪声性能评估。
所需选件：N4000A 噪声系数测试套件。
(3) 混频器测试（需选件）
功能：测量变频损耗、隔离度等参数。
所需选件：S93080B 混频器测试软件。
四、典型应用场景
1. 无线通信器件测试
测试对象：滤波器、功放、天线、耦合器
关键指标：
S11/S22（回波损耗 >15 dB）
S21（插入损耗 <3 dB）
2. 航空航天与国防电子
测试对象：雷达组件、卫星通信模块
特殊需求：
高动态范围（>120 dB）以检测微弱信号
相位稳定性（±0.5°）用于波束成形系统
3. 半导体器件表征
测试对象：GaN HEMT、SiC 功率器件
注意事项：
使用 直流偏置模块（如N469x系列）提供栅极/漏极电压。
避免过驱（Output Power ≤ 0 dBm）以防损坏器件。
4. 高速数字电路信号完整性
测试对象：PCB传输线、连接器
方法：
时域反射计（TDR）分析阻抗一致性。
眼图生成（需配合BERT或示波器）。
五、总结
Keysight E8363A 是一款 高精度、多功能 的矢量网络分析仪，适用于 研发、生产、质检 全流程。其 宽频带、低噪声、高动态范围 特性使其在 5G、毫米波、雷达、半导体 等领域表现卓越。
选型建议
基础射频测试：E8363A（2端口） + 85052D校准套件。
复杂系统测试：E8363A（4端口扩展） + N4000A噪声选件。
毫米波扩展：搭配VDI变频器（覆盖至67 GHz）。
Keysight E8363A 网络分析仪：高性能射频与微波测试解决方案
一、产品概述
Keysight E8363A 是一款 高性能矢量网络分析仪（VNA），属于 PNA 系列，专为 射频（RF）、微波和毫米波器件测试 设计。它广泛应用于 无线通信、航空航天、国防电子、半导体测试 等领域，提供 高精度 S 参数测量、时域分析、噪声系数测试 等功能。
本篇文章将从 产品参数、使用说明、典型应用 三个方面详细介绍 E8363A，帮助用户快速掌握其功能并优化测试流程。
二、E8363A 关键参数
1. 频率范围与动态性能
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 频率范围 | 10 MHz ~ 40 GHz（可扩展至67 GHz） |
| 动态范围 | >130 dB（典型值） |
| 测量速度 | 最快 5 μs/点（快速扫描模式） |
| 输出功率 | -50 dBm ~ +13 dBm（可调） |
2. 测量精度与稳定性
| 参数 | 规格 |
|---|---|
| 幅度精度 | ±0.03 dB（校准后） |
| 相位精度 | ±0.3°（校准后） |
| 迹线噪声 | <0.002 dB RMS（1 kHz IFBW） |
| 温度稳定性 | ±0.01 dB/°C（典型值） |
3. 其他关键特性
端口配置：2端口（标准），可扩展至4端口
校准方式：支持SOLT（短路-开路-负载-直通）、TRL、LRM校准
数据接口：GPIB、LAN、USB 2.0
显示分辨率：12.1英寸触摸屏（1024×768像素）
三、使用说明
1. 硬件连接
(1) 被测器件（DUT）连接
使用 高质量射频电缆（如3.5mm或N型接口）连接 E8363A 的 Port 1 和 Port 2 至 DUT。
若测试差分器件（如平衡滤波器），需搭配 差分探针或巴伦。
(2) 校准步骤
选择校准套件：在仪器菜单中匹配校准件型号（如85052D）。
执行SOLT校准：依次连接短路（Short）、开路（Open）、负载（Load）、直通（Thru）标准件。
验证校准：检查 S11/S22 的反射系数是否接近0 dB（理想匹配）。
2. 基本测量操作
设置频率范围
按 【FREQ】键，输入起始（Start）和终止（Stop）频率（如1 GHz ~ 20 GHz）。
选择测量参数
按 【S-Parameter】键，选择 S11（反射系数）、S21（传输系数） 等。
调整扫描点数与IF带宽
增加点数（如1601点）可提高分辨率，降低IF带宽（如10 Hz）可减少噪声。
数据保存与导出
支持保存为 **.CSV、.S2P** 格式，便于后续分析（如ADS仿真）。
3. 高级功能
(1) 时域分析（TDR/TDT）
功能：用于定位传输线中的阻抗不连续点（如PCB走线缺陷）。
操作步骤：
按 【Transform】→【Time Domain】。
设置时域门控（Gating）以隔离特定反射信号。
(2) 噪声系数测试（需选件）
适用场景：放大器、混频器的噪声性能评估。
所需选件：N4000A 噪声系数测试套件。
(3) 混频器测试（需选件）
功能：测量变频损耗、隔离度等参数。
所需选件：S93080B 混频器测试软件。
四、典型应用场景
1. 无线通信器件测试
测试对象：滤波器、功放、天线、耦合器
关键指标：
S11/S22（回波损耗 >15 dB）
S21（插入损耗 <3 dB）
2. 航空航天与国防电子
测试对象：雷达组件、卫星通信模块
特殊需求：
高动态范围（>120 dB）以检测微弱信号
相位稳定性（±0.5°）用于波束成形系统
3. 半导体器件表征
测试对象：GaN HEMT、SiC 功率器件
注意事项：
使用 直流偏置模块（如N469x系列）提供栅极/漏极电压。
避免过驱（Output Power ≤ 0 dBm）以防损坏器件。
4. 高速数字电路信号完整性
测试对象：PCB传输线、连接器
方法：
时域反射计（TDR）分析阻抗一致性。
眼图生成（需配合BERT或示波器）。
五、总结
Keysight E8363A 是一款 高精度、多功能 的矢量网络分析仪，适用于 研发、生产、质检 全流程。其 宽频带、低噪声、高动态范围 特性使其在 5G、毫米波、雷达、半导体 等领域表现卓越。
选型建议
基础射频测试：E8363A（2端口） + 85052D校准套件。
复杂系统测试：E8363A（4端口扩展） + N4000A噪声选件。
毫米波扩展：搭配VDI变频器（覆盖至67 GHz）。