N7788B keysight 是德 光元器件分析仪
主要特性：
• 通过单次扫描实现最高精度： 无需通过多次扫描计算平均值
• 高测量速度
• 10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）
• 稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
• 高测量速度
• 10 秒之内即可完成 C/L 频带中的完整测量（无需等待多个平均值）
• 稳定性不受光纤移动/振动和漂移的影响
N7788B keysight 是德 光元器件分析仪
是德科技 N7788B 光元器件偏振分析仪
产品特点
1、搭载是德科技独家单次扫描专利技术，无需多次扫描累加平均，C/L波段全波段测试仅需10秒，测试速度远超传统偏振测试设备，极大提升产线产能。
2、超强环境抗干扰能力，测试结果不受光纤抖动、位移、微振动、温度漂移影响，无需专业隔振平台，大幅降低测试搭建难度，适合产线复杂工况。
3、真正一站式全参数测试，单次扫描同步输出：PMD偏振模色散、DGD差分群时延、PDL偏振相关损耗、插入损耗、TE/TM偏振损耗、二阶PMD、主偏振态、琼斯矩阵、米勒矩阵全套数据。
4、宽波段模块化配置，支持O波段、C波段、L波段组合选件，完整覆盖1260–1640nm全光通信波段，适配全品类光通信器件测试需求。
5、无器件长度限制，支持短芯片器件、光纤链路、放大器系统、多级光路系统测试，适配硅光、集成光子、光纤传输系统多种场景。
6、配套专业Polarization Navigator分析软件，支持庞加莱球偏振态可视化、光谱曲线分析、参数回放，便于研发问题定位与机理分析。
7、标配LAN、USB、GPIB接口，支持SCPI程控指令，可无缝接入自动化ATE测试系统，自动生成测试报表，适配批量量产与长期可靠性测试。
8、原厂经典高端设备现已停产，测量精度高、一致性好，是行业公认的偏振色散测试标准机型，二手设备性价比极高。
核心规格
‑ 设备状态：原厂已停产，行业主流高端二手测试设备
‑ 工作波段：1260~1640nm（可选Opt300/O波段、Opt500/C+L波段、Opt400/O+C+L全波段）
‑ DGD测量范围：0 ps ~ 1000 ps
‑ DGD测量精度：±(30 fs + 0.3%×DGD)
‑ PMD测量范围：0 ps ~ 300 ps
‑ PDL测量范围：0 dB ~ 10 dB
‑ PDL测量精度：±0.03 dB
‑ 全波段扫描速度：≤10秒（C+L波段完整扫描）
‑ 输出参数：IL、PDL、DGD、一阶/二阶PMD、PSP、琼斯矩阵、米勒矩阵
‑ 通讯方式：GPIB、LAN、USB，全面支持自动化程控
应用场景
‑ 无源光器件测试：WDM、滤波器、耦合器、光开关、隔离器、环行器的PMD、PDL、色散、偏振特性批量检测。
‑ 高速光模块测试：高速光组件、相干器件、窄带滤波器件偏振色散参数标定，保障高速传输系统稳定性。
‑ 硅光与集成光子测试：硅光芯片、集成光器件、PLC器件全参数偏振表征，满足高端光电芯片研发需求。
‑ 光放大器系统测试：EDFA、光纤链路、传输系统偏振稳定性、色散特性、链路扰动分析。
‑ 科研精密实验：偏振光学研究、高速相干通信系统仿真、器件偏振敏感度与可靠性实验测试。
‑ 自动化产线质检：适配大批量光器件出厂测试、数据归档、良率筛选，是高端光器件产线标配测试设备。
2024-02-23
398
/file/upload/spae276/2024-02/23/202402231147542907.pdf
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