如果您是研发或制造领域的工程师,对数字子系统、IC或电路板进行功能和参数测试,安捷伦81200数据发生器/分析器平台是您的正确选择。81200可以在整个开发周期内对数字设备进行彻底的验证和鉴定,从而降低风险、成本和上市时间。
81200是一个模块化系统,提供速度等级为200/330/675/2.700Mb/s的激励和分析通道。
Agilent ParBERT 81250是一个模块化的并行电和光误码率(BER)测试平台,其工作速度高达45Gb/s。ParBERT 81250平台包括工作在675 Mb/s、1.65 Gb/s、2.7 Gb/s、3.35 Gb/s、7 Gb/s、10.8 Gb/s、13.5 Gb/s和45 Gb/s的模块。该系统在平行线上生成伪随机字序列(PRWS)、标准伪随机二进制序列(PRBS)和用户定义的图案。你可以用用户定义的模式、PRBS/PRWS或混合数据(用户定义的模式和PRBS的组合)分析误码率。
ParBERT 81250完美地适用于并行到串行、串行到并行、串行到串行和多个串行误码率测试。例如,多路复用器和解复用器(Mux/Demux)--或SerDes(串行器/解扰器)--测试用于电信和存储区域网络(SAN)IC,制造业的多个发射器和接收器测试,放大器以及10GbE和前向纠错(FEC)设备测试。
它也是集成电路测试仪高速通道的一个理想扩展。
如果需要,ParBERT 81250还为DUT提供数据和控制信号。